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四探针法通常用来测量半导体的电阻率。四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准。
四探针方块电阻（又叫薄膜电阻）测试仪是半导体制造中常用四探针的检测仪器之一四探针，用以测量半导体材料的电阻率和薄膜的方块电阻四探针，同时达到测量半导体薄层材料的掺杂浓度和薄膜厚度、控制器件和集成电路性能的目的。
在此基础上发展起来的交流四探针方法四探针，能够消除电接触区的热电势，但它对交流电流源和检测信号的交流放大器稳定性的要求极为严格，且仍存在接触稳定性问题。这些因素造成四探针法对于电阻值的微小变化不敏感，阻碍了仔细分析材料组织结构的微弱变化过程。
四探针测试技术
是用4根等间距配置的探针扎在半导体表面上，由恒流源给外侧的两根探针提供一个适当小的电流I，然后测量出中间两根探针之间的电压V，就可以求出半导体的电阻率。对于厚度为W（远小于长和宽）的薄半导体片，得到电阻率为ρ=ηW(V/I)，式中η是修正系数。
特别，对于直径比探针间距大得多的薄半导体圆片，得到电阻率为ρ= (π/ln2)W(V/I)= 4.532 W(V/I) [Ω-cm]，其中W用cm作单位。
以上内容参考：百度百科-四探针测试技术
34是侦探针四探针，工作原理是四探针他四探针的旋转里面有一个齿轮卡住一个圆圈四探针，所以它只能卡住一个圆球四探针，它这个弹球才可以进行，他用这个探针才可以达到一定的测试高度，所以他手持式的试探针工作原理一般都是齿轮式工作原理。
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